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HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調(diào))、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。般用來進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等，若待測品是半導(dǎo)體，則用來測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。

[上一個(gè):雙門式恒溫恒濕試驗(yàn)箱] [下一個(gè):步入式恒溫恒濕試驗(yàn)房]

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱

詳情說明

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調(diào))、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。般用來進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等

，若待測品是半導(dǎo)體，則用來測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體

之中，常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。

可按需定制
溫度范圍:A(105°℃~132°℃);B(105°℃~142.9°℃);C(105℃℃~155°C)可選壓力范圍:A(壓力表+0.2~2.0kg/cm);B(壓力表+0.2~3.0kg/cm);C(壓力表+0.2~3.5kg/cm)濕度范圍:65%~100%R.H(可調(diào))
濕度波動(dòng)度:非飽和控制:±2.5%R.H、濕潤飽和控制:100%6R.HHAST高壓加速老化試驗(yàn)箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調(diào))、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。
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